熱釋光輻照儀是一種利用熱釋光原理檢測材料是否經(jīng)過輻照處理的設(shè)備，主要用于食品輻照檢測、考古學(xué)、地質(zhì)學(xué)等領(lǐng)域。其核心功能是通過測量材料在輻照后儲(chǔ)存的能量釋放情況，判斷材料是否接受過輻照處理，并可定量分析輻照劑量。
核心功能：
輻照檢測：通過測量材料在輻照后儲(chǔ)存的能量釋放情況，判斷材料是否接受過輻照處理。
劑量分析：定量分析輻照劑量，為輻射防護(hù)、環(huán)境監(jiān)測等領(lǐng)域提供數(shù)據(jù)支持。
測量原理：
熱釋光效應(yīng)：當(dāng)某些晶體材料(如氟化鋰、硫酸鈣等)受到X射線、γ射線等電離輻射照射時(shí)，輻射能量會(huì)使材料晶格中的電子脫離束縛，被晶格缺陷(如雜質(zhì)、空位)捕獲并儲(chǔ)存，形成“能量陷阱”。加熱時(shí)，被捕獲的電子獲得能量脫離陷阱，回到穩(wěn)定狀態(tài)，同時(shí)將儲(chǔ)存的輻射能量以可見光的形式釋放。釋放的光強(qiáng)度與材料吸收的輻射劑量在一定范圍內(nèi)呈線性關(guān)系。
光電轉(zhuǎn)換：通過光電倍增管將光信號(hào)轉(zhuǎn)化為電信號(hào)，經(jīng)數(shù)據(jù)處理單元計(jì)算得出累積輻射劑量。
應(yīng)用領(lǐng)域
輻射劑量測量：廣泛應(yīng)用于環(huán)境監(jiān)測照射劑量測量、輻射防護(hù)等領(lǐng)域，確保人員和設(shè)備的安全。
考古學(xué)：通過測量陶瓷器物自燒制以來的累積劑量，結(jié)合年劑量，推算年代，誤差范圍控制在±5%以內(nèi)。
地質(zhì)學(xué)：研究巖石孔隙率、年代測定等，為地質(zhì)勘探提供數(shù)據(jù)支持。
食品輻照檢測：熱釋光技術(shù)適用于可分離出硅酸鹽礦物質(zhì)的食品輻照檢測。
地址：北京市順義區(qū)牛欄山鎮(zhèn)騰仁路22號(hào)3幢2層201室
郵箱：info@clovertek.com
傳真：86-010-88026856
當(dāng)前位置：